SU3800/SU3900掃描電子顯微鏡搭載了多功能大樣品倉(cāng)，大樣品的分析；搭配多附件，可對(duì)正極材料進(jìn)行多方位分析。另外，可搭載直徑可達(dá)200mm（3800），300mm（3900）的樣品，進(jìn)行多個(gè)樣品的一并分析。

從廣域到微小領(lǐng)域的觀察分析。 廣泛活躍在材料或產(chǎn)品的品質(zhì)管理中。

掃描電子顯微鏡SU3800/3900在生產(chǎn)鋰離子電池過(guò)程中，被廣泛用于來(lái)料檢測(cè)、生產(chǎn)異物的分析等?？蒵以實(shí)現(xiàn)顆粒的細(xì)微表面形貌分析、三維形狀分析，EDS構(gòu)成信息分析等多維分析。多種分析均可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，有望提升鋰離子電池的生產(chǎn)效率。

兼?zhèn)洳僮餍院蛿U(kuò)展性，也可應(yīng)對(duì)大樣品的觀察。

SU3800/SU3900掃描電子顯微鏡搭載了多功能大樣品倉(cāng)，大樣品的分析；搭配多附件，可對(duì)正極材料進(jìn)行多方位分析。另外，可搭載直徑可達(dá)200mm（3800），300mm（3900）的樣品，進(jìn)行多個(gè)樣品的一并分析。

多功能超大樣品倉(cāng)

· 樣品臺(tái)可搭載超大/超重樣品

· 通過(guò)更換樣品提示，可防止由于與樣品的接觸而損壞設(shè)備或樣品

GUI上顯示更換樣品的操作步驟?？梢员苊庖蛉藶榈恼`操作而導(dǎo)致樣品污染或損壞。即使是難以檢測(cè)高度的凹凸不平的樣品或者是超大樣品，也能夠輕松更換。

· 樣品交換倉(cāng)*

選配樣品交換倉(cāng)，可在主樣品倉(cāng)保持真空的狀態(tài)下快速更換樣品，大大提高了工作效率。

· 具備樣品臺(tái)移動(dòng)限制解除功能,提高了自由度*

SU3800 / SU3900掃描電子顯微鏡配置了樣品臺(tái)自由模式，開(kāi)放了樣品臺(tái)移動(dòng)的自由度。操作人員可自行判斷，自由移動(dòng)樣品臺(tái)。

※選擇樣品臺(tái)自由模式時(shí)，請(qǐng)同時(shí)選配紅外CCD探測(cè)器。

· 紅外CCD探測(cè)器*，提高了樣品臺(tái)移動(dòng)的安全性

紅外CCD探測(cè)器是用于監(jiān)控樣品倉(cāng)內(nèi)部的裝置。通過(guò)使用紅外線攝像機(jī)，可以在觀察SEM圖像的同時(shí)監(jiān)視樣品倉(cāng)內(nèi)部情況。為了獲得更詳細(xì)的位置，放大CCD圖像，并且移動(dòng)觀察位置。

*配件

· 支持全視野移動(dòng),SEM MAP支持超大樣品的全視野觀察

1、與GUI聯(lián)合，可配備樣品倉(cāng)室導(dǎo)航相機(jī)

與GUI聯(lián)合的SEM MAP，正是因?yàn)椴捎昧藰悠穫}(cāng)室導(dǎo)航相機(jī)，才得以實(shí)現(xiàn)廣角相機(jī)導(dǎo)航功能*。在SEM MAP上指出觀察目標(biāo)位置，可以順利地移動(dòng)到任意的位置上。使用大視野相機(jī)導(dǎo)航系統(tǒng)拍攝的圖像或外部圖像，通過(guò)自由放大或縮小圖像，可以將大視野的彩色圖像切換到高倍率的SEM圖像。

*配件

2、覆蓋整個(gè)可觀察區(qū)域

相機(jī)導(dǎo)航系統(tǒng)通過(guò)圖像拼接功能可以實(shí)現(xiàn)大視野的SEM MAP觀察。觀察區(qū)域?yàn)橹睆?30mm（SU3800）/ 直徑200mm（SU3900），并且可以與樣品臺(tái)R一起聯(lián)動(dòng)，移動(dòng)到大型樣品的觀察區(qū)域。

3、支持360度旋轉(zhuǎn)

SEM MAP操作界面可直觀的顯示樣品與探測(cè)器的位置關(guān)系，因此在觀察高度差大的樣品時(shí)，可根據(jù)需求旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)或電子束來(lái)獲得觀察分析位置，避免陰影效應(yīng)造成的影響。